programmi di cristallografia e di simulazione delle figure di diffrazione e delle immagini ad alta risoluzione.
Lo strumento permette l’osservazione della struttura interna dei campioni anche in condizioni di alta risoluzione e con la possibilità di eseguire analisi composizionali localizzate.
Possono essere osservati tutti i tipi di campioni purché siano stabili sotto vuoto e trasparenti agli elettroni del fascio incidente o resi trasparenti mediante opportune tecniche d’assottigliamento.
