Laboratorio Microscopia Elettronica a Scansione (HRSEM)

 
Responsabile: Paolo Mengucci
 
Telefono interno al laboratorio: 071 220 4425
 
Strumentazione presente nel laboratorio:
 
Microscopio Elettronico a Scansione FESEM ZEISS SUPRA 40
  • sorgente: emissione di campo (FEG) tipo Schottky
  • tensione di accelerazione: 0.1-30 kV
  • rivelatore di elettroni secondari tipo Everhart-Thornley
  • rivelatore di elettroni secondari in-lens
  • rivelatore di elettroni retrodiffusi allo stato solido a 4 settori
  • sistema per Microanalisi a raggi X Bruker Quantax 200-Z10 con rivelatore SDD senza azoto liquido

  • telecamera CCD con illuminazione IR per visualizzare l’interno della camera.
  • ingrandimenti: 12x – 900.000x
  • risoluzione:
  • 1.0nm @ 20 kV WD = 2mm
  • 1.3nm @ 15 kV WD = 2mm
  • 1.5nm @ 10 kV WD = 2mm
  • 2.1nm @ 1 kV WD = 2mm
  • 5.0nm @ 0.2 kV WD = 2mm
 
 
La strumentazione permette l’osservazione ad alta risoluzione della topografia tridimensionale del campione con la possibilità di ottenere anche informazioni e immagini composizionali.
Possono essere osservati tutti i tipi di campioni.
Si possono eseguire osservazioni ad alta risoluzione anche a bassa tensione.
 
La strumentazione è concessa in uso e gestita dal Centro di Ricerca e Servizio di Microscopia delle Nanostrutture (CISMIN) dell’Università Politecnica delle Marche.
L’utilizzo della strumentazione è regolato dalle norme adottate dal CISMIN ed è consentito ai soli utenti autorizzati dal Coordinatore del CISMIN.
 
Personale di riferimento: