Laboratorio Diffrattometria RX2

 
 

Responsabile: Paolo Mengucci
 
Telefono interno al laboratorio: 071 220 4371
 
Strumentazione presente nel laboratorio:
  1. Diffrattometro a raggi X INEL (Cu-Kα) con rivelatore curvo a gas CPS120
  2. Goniometro computerizzato per analisi film sottili ad angolo radente (GID)
  3. Sistema diffrattometrico Bruker D8 ADVANCE (Cu-Kα) con goniometro θ-θ utilizzabile nelle seguenti configurazioni: Bragg-Brentano (XRD), angolo radente (GID) e riflettometria (XRR)
  4. Programma d’indicizzazione ed analisi automatica degli spettri di raggi X
  5. Programmi di simulazione degli spettri di raggi X
  6. Programma di simulazione delle curve di riflettometria
  7. Schede di diffrazione di tutti i composti organici ed inorganici del ICDD (International Centre for Diffraction Data) su CD-ROM (PDF2 ver. 2006)
                   Diffrattometro Bruker D8 ADVANCE
 
La strumentazione permette l’analisi di qualunque tipo di materiale in forma massiva o in film sottile allo stato solido o liquido.
Le tecniche GID e XRR sono utilizzate, in particolare, per la caratterizzazione strutturale di film sottili e multilayer.
 
Il laboratorio è classificato “Zona Controllata” e quindi l’accesso è consentito esclusivamente al personale autorizzato.
 
Personale di riferimento: