Diffrattometro a raggi X INEL (Cu-Kα) con rivelatore curvo a gas CPS120
Goniometro computerizzato per analisi film sottili ad angolo radente (GID)
Sistema diffrattometrico Bruker D8 ADVANCE (Cu-Kα) con goniometro θ-θ utilizzabile nelle seguenti configurazioni: Bragg-Brentano (XRD), angolo radente (GID) e riflettometria (XRR)
Programma d’indicizzazione ed analisi automatica degli spettri di raggi X
Programmi di simulazione degli spettri di raggi X
Programma di simulazione delle curve di riflettometria
Schede di diffrazione di tutti i composti organici ed inorganici del ICDD (International Centre for Diffraction Data) su CD-ROM (PDF2 ver. 2006)
Diffrattometro Bruker D8 ADVANCE
La strumentazione permette l’analisi di qualunque tipo di materiale in forma massiva o in film sottile allo stato solido o liquido.
Le tecniche GID e XRR sono utilizzate, in particolare, per la caratterizzazione strutturale di film sottili e multilayer.
Il laboratorio è classificato “Zona Controllata” e quindi l’accesso è consentito esclusivamente al personale autorizzato.
