Laboratory: ADVANCED X-RAY DIFFRACTION LABORATORY
Laboratory: Microscopia Elettronica
Laboratory: Ottica3 e Optoacustica
Laboratory: ADVANCED X-RAY DIFFRACTION LABORATORY
The Advanced X-ray Diffraction (XRD) Laboratory is a facility devoted to the study of the nanoscale structure of matter from both a fundamental and an applicative point of view. It provides state of the art equipment aimed at performing high quality research in the very broad field of the physics of matter.
Over the last two decades, the laboratory has operated first as and Advanced Center of the National Institute for the Physics of Matter (INFM) and more recently as a part of the Marche Regional Laboratory (MATEC) of the National Inter-University Consortium for the Physical Sciences of Matter (CNISM). Currently, it constitutes an essential part of a new joint inter-departmental laboratory for advanced materials at the UnivPM. The laboratory consists of the following diffractometric systems:
Laboratory: ADVANCED X-RAY DIFFRACTION LABORATORY
Thematic Sector: NANOSTRUCTURE OF SOFT MATERIALS
RESPONSABILE: Prof. Oriano Francescangeli
REFERENTE TECNICO O PERSONALE DI RIFERIMENTO: Ing. Luigi Montalto
DESCRIPTION OF TECHNIQUES AND RESEARCH:
The equipment of the Advanced X-Ray Diffraction Laboratory is used to study the structure of soft condensedmatter at the nanoscale, with focus on the nanostructure of soft materials and its connections with the materials’ macroscopic properties. The techniques used include:
The materials investigated include:
Laboratory: ADVANCED X-RAY DIFFRACTION LABORATORY
Thematic Sector: NANOSTRUCTURE OF SOLID MATERIALS
RESPONSABILE: Prof. Paolo Mengucci
REFERENTE TECNICO O PERSONALE DI RIFERIMENTO: Dott. Adriano di Cristoforo
DESCRIPTION OF TECHNIQUES AND RESEARCH:
Nanostructure characterization of solid-state materials is the principal activity carried out by the X-ray equipment installed in the Lab. Bulk materials, thin films and multilayer, surfaces and interfaces are commonly investigated by the available techniques, that include:
The materials investigated include:
Laboratorio: Microscopia Elettronica
Settore Tematico: Microscopia Elettronica a Scansione
La strumentazione permette l’osservazione della topografia tridimensionale del campione con la possibilità di ottenere anche informazioni e immagini composizionali. Possono essere osservati tutti i tipi di campioni purché siano stabili sotto vuoto e conduttivi o resi conduttivi con opportune tecniche di preparazione. La strumentazione è concessa in uso e gestita dal Centro di Ricerca e Servizio di Microscopia delle Nanostrutture (CISMIN) dell’Università Politecnica delle Marche. L’utilizzo della strumentazione è regolato dalle norme adottate dal CISMIN ed è consentito ai soli utenti autorizzati dal Coordinatore del CISMIN.
Microscopi Elettronici: SEM PHILIPS XL20, FESEM ZEISS SUPRA 40, TESCAN VEGA3
Responsabile: Paolo Mengucci
Referente tecnico o personale di riferimento: Dott. Adriano di Cristoforo
Telefono interno al laboratorio: 071 220 4425
Caratteristiche del microscopio:
Responsabile: Paolo Mengucci
Referente tecnico o personale di riferimento: Dott. Adriano di Cristoforo
Telefono interno al laboratorio: 071 220 4425
Caratteristiche del microscopio:
Responsabile: Paolo Mengucci
Referente tecnico o personale di riferimento: Dott. Adriano di Cristoforo
Caratteristiche tecniche del microscopio:
Microscopio elettronico a scansione (SEM) operante in condizioni di alto vuoto e di basso vuoto (fino a 500 Pa)
Sorgente di emissione: Esaboruro di Lantanio (LaB6) e Tungsteno (W), intercambiabili
Tensione di accelerazione: da 200 V a 30 kV variabile in continuo.
Corrente di fascio: da 1 pA a 2 μA variabile in continuo.
Risoluzione:
– 2.0 nm @ 30 kV in alto vuoto con rivelatore di elettroni secondari;
– 5.0 nm @ 3 kV in alto vuoto con rivelatore di elettroni secondari;
– 2.5 nm @ 30 kV a pressione variabile con rivelatore di elettroni secondari.
Ingrandimenti: da 2x a 106x con zoom in continuo.
Colonna elettronica senza aperture con controllo computerizzato della corrente e delle dimensioni del fascio.
Velocità di scansione del fascio elettronico regolabile in continuo.
Tavolino traslatore compucentrico, motorizzato su 5 assi con movimenti sugli assi X e Y non inferiori a 60 mm e sull’asse Z non inferiori a 45 mm, Rotazione 360°.
Camera CCD agli infrarossi.
Range della pressione variabile: da 3 Pa fino a pressioni non inferiori a 500 Pa.
Sub-stage raffreddante ad effetto Peltier.
Rivelatori:
– E-T per elettroni secondari per alto vuoto;
– elettroni secondari dedicato per pressione variabile;
– scintillatore YAG per elettroni retrodiffusi.
Pacchetti software di gestione del SEM: diagnostica e controllo, navigazione del campione, analisi e misura sull’immagine, correzione ed elaborazione dell’immagine, live 3D, hardness
Laboratorio: Microscopia Elettronica
Settore Tematico: Microscopia Elettronica in Trasmissione
Microscopio Elettronico in Trasmissione (TEM) Philips CM200 a 200 kV, analitico
Lo strumento permette l’osservazione della struttura interna dei campioni anche in condizioni di alta risoluzione e con la possibilità di eseguire analisi composizionali localizzate. Possono essere osservati tutti i tipi di campioni purché siano stabili sotto vuoto e trasparenti agli elettroni del fascio incidente o resi trasparenti mediante opportune tecniche d’assottigliamento. La strumentazione è concessa in uso e gestita dal Centro di Ricerca e Servizio di Microscopia delle Nanostrutture (CISMIN) dell’Università Politecnica delle Marche. L’utilizzo della strumentazione è regolato dalle norme adottate dal CISMIN ed è consentito ai soli utenti autorizzati dal Coordinatore del CISMIN.
Responsabile: Paolo Mengucci
Caratteristiche del microscopio:
Laboratorio: Microscopia Elettronica
Settore Tematico: Preparazione Campioni per Microscopia Elettronica
Il laboratorio è attrezzato per la preparazione dei campioni che devono essere osservati al microscopio elettronico a scansione (SEM, FESEM) o al microscopio elettronico in trasmissione (TEM). In particolare, la strumentazione presente nel laboratorio permette la preparazione sia di sezioni planari che di sezioni trasversali di materiali inorganici (metalli, ceramici, semiconduttori) in forma di film sottile o in bulk.
Responsabile: Paolo Mengucci
Referente tecnico o personale di riferimento: Dott. Adriano di Cristoforo
Strumentazione presente nel laboratorio:
Laboratorio: Ottica3 e Optoacustica
Settore tematico: Optics and Optoacoustics
Responsabile:
Personale di riferimento: Lucchetta Daniele Eugenio, Riccardo Castagna, Andrea Di Donato, Lara Schiaroli
Localizzazione: Quota 155 Dip. SIMAU
Contatti: Lucchetta Daniele Eugenio tel. +390712204222 e-mail: d.e.lucchetta@univpm.it
I laboratori di Ottica3 e di Optoacustica sono dotati di diverse sorgenti laser operanti nell’ultravioletto e nel visibile, alcune delle quali di seguito elencate e di tutta la strumentazione necessaria per l’acquisizione di segnali di natura ottica, elettrica ed in parte meccanica:
